期刊文章详细信息
诊断X射线曝光时间非介入式测量研究
Study on non intrusive exposure time measurement of diagnostic X ray
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]中测测试科技有限公司,四川成都610021 [2]中国测试技术研究院,四川成都610021
基 金：国家重大科学仪器设备开发专项(2013YQ090811);四川省科技计划项目(2013GZ0010)
年 份：2015
卷 号：41
期 号：1
起止页码：21-23
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2014、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、IC、ZGKJHX、核心刊
摘 要：曝光时间是诊断X射线的重要参数之一,根据半导体探测器体积小、灵敏度高及响应快等特点,研制一种用于非介入式测量曝光时间等参数的测量仪,建立诊断X射线曝光时间测量模型,并给出曝光时间非介入式测量的电路构成和软件流程。实验表明:研制的诊断X射线多参数测量仪适用于曝光时间的非介入式测量和校准。
关 键 词：诊断X射线 曝光时间 非介入 半导体探测器
分 类 号：TH774[仪器类]
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