期刊文章详细信息
边界扫描器件BSDL描述在测试中的应用
BSDL description of device and its application in boundary-scan test
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]空军雷达学院研究生队,湖北武汉430019 [2]空军雷达学院雷达系统工程系,湖北武汉430019 [3]空军雷达学院改装训练系,湖北武汉430019
年 份：2003
卷 号：28
期 号：10
起止页码：42-45
语 种：中文
收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：在对描述器件边界扫描特性的BSDL语言进行了深入研究之后,将其应用于边界扫描自动测试图形生成ATPG与故障诊断软件中。本文以EPM7128SL84芯片为例,说明了其BSDL描述在边界扫描测试程序中的应用方法与要点。
关 键 词：边界扫描器件 测试 BSDL语言 EPM7128SL84芯片 可测性设计 电子系统设计
分 类 号：TN407]
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