文献类型：期刊文章

作　　者：廖学亮[1] 沈学静[1,2] 刘明博[2] 陈永彦[2] 韩鹏程[2] 屈华阳[2] 胡学强[2]

机构地区：[1]钢铁研究总院,北京100081 [2]钢研纳克检测技术有限公司,北京100081

出　　处：《食品科学》

基　　金：科技部重大科学仪器设备开发专项(2012YQ05007602)

年　　份：2014

卷　　号：35

期　　号：24

起止页码：169-173

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2011、CAS、CSCD、CSCD2013_2014、EI、FSTA、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：建立一种基于台式能量色散型X射线荧光光谱对大米中重金属Cd的快速、直接测定方法。针对普通能量色散X射线荧光光谱灵敏度低的问题,通过X射线荧光光谱理论分析并结合样品杯试验提高Cd的信噪比,通过对谱图中逃逸峰的对比分析排除其对Cd信号的干扰。本方法操作简单,不需要对大米样品进行前处理,可直接对大米进行检测;本方法的相对标准偏差小于10%,检出限达到0.054 mg/kg,实验中所使用的工作曲线的测定线性范围为0.06~1.0 mg/kg,单一样品检测时间为18 min左右,实际样品测试结果同电感耦合等离子质谱法结果一致,能够满足现场快速、准确、无损测定大米中Cd含量的要求,可为大米中Cd是否超标提供一种快速筛查方法。

关 键 词：大米 CD 能量色散X射线荧光法  

分 类 号：O657.34] TS210.7[化学类]