文献类型：期刊文章

作　　者：许桂雯[1] 欧阳征标[1] 安鹤男[1] 孙一翎[1] 曹建章[1] 张登国[1] 阮双琛[1] 李景镇[1]

机构地区：[1]深圳大学工程技术学院固态光子研究室,深圳518060

出　　处：《光子学报》

基　　金：国家自然科学基金 (6 0 1770 30 );集成光电子学国家重点联合实验室;深圳市科技局资助项目

年　　份：2003

卷　　号：32

期　　号：9

起止页码：1079-1082

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：利用光学传输矩阵法研究了结构参量对缺陷态光子晶体的缺陷模带宽和品质因子的影响 研究发现 ,当缺陷介质层厚度h0 的值较小时 ,缺陷模的带宽很小且基本保持不变 ;当h0 较大时 ,缺陷模的带宽随h0 的增加而快速增加 另外发现 ,缺陷模的品质因子在某个h0 处取最大值 但是总体上看 ,h0 较小时的品质因子要远大于h0 较大时的品质因子 此外 ,缺陷模的品质因子随光子晶体的周期数增加而急剧增加约 4 .788倍 ,而带宽则随周期数的增加而急剧减少约 4 .788倍 当周期数为 13时就可以获得 10 9以上的品质因子值和小于 10 -

关 键 词：光子晶体 缺陷模 带宽 品质因子 周期数  光子禁带

分 类 号：O734] O572.31