期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]郑州轻工业学院技术物理系,河南郑州450002 [2]新乡师范专科学校物理系,河南新乡453002
年 份:2003
卷 号:18
期 号:3
起止页码:56-57
语 种:中文
收录情况:CAS、ZGKJHX、普通刊
摘 要:阐述了牛顿环干涉原理,解释了牛顿环实验图样和附加光程差对牛顿环图样的影响,并指出应用牛顿环现象可判断透镜表面凸凹、精确检验光学元件表面质量、测量透镜表面曲率半径和液体折射率.
关 键 词:干涉原理 附加光程差 透镜 光学元件 表面曲率半径 检验 牛顿环现象 薄膜干涉 实验图样
分 类 号:O435]
参考文献:
正在载入数据...
二级参考文献:
正在载入数据...
耦合文献:
正在载入数据...
引证文献:
正在载入数据...
二级引证文献:
正在载入数据...
同被引文献:
正在载入数据...