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期刊文章详细信息

单片机自身的可靠性技术发展    

Development of Reliability Technique Single Chip Processor

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈卫兵[1]

机构地区:[1]阜阳师范学院物理系,阜阳236032

出  处:《微电子技术》

年  份:2003

卷  号:31

期  号:4

起止页码:16-18

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:本文介绍单片机目前的发展趋势 ,以及在提供系统可靠性方面单片机自身的技术发展 ,以便于用户选用单片机来实现高可靠性的单片机应用系统。

关 键 词:单片机 可靠性 时钟

分 类 号:TN431]

参考文献:

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同被引文献:

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