登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

X射线光电子能谱(XPS)    

  

文献类型:期刊文章

作  者:俞宏坤[1]

机构地区:[1]复旦大学材料科学系国家微分析中心

出  处:《上海计量测试》

年  份:2003

卷  号:30

期  号:4

起止页码:45-47

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:在对许多材料的研究和应用中,了解其表面特性是很重要的.而要获得材料的表面特性,就需要一些特殊的仪器,对各种材料从成分和结构上进行表面表征.其中,X射线光电子能谱(XPS)由于其对材料表面化学特性的高度识别能力,成为材料表面分析的一种重要技术手段.

关 键 词:X射线光电子能谱 XPS 表面特性 表面分析  光电效应 能量分布  

分 类 号:TH838.3[仪器类]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心