期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]华中光电技术研究所,武汉430073
年 份:2003
卷 号:1
期 号:2
起止页码:51-56
语 种:中文
收录情况:ZGKJHX、普通刊
摘 要:面阵探测器可直接探测点目标图像的位置,但其定位精度受到探测器分辨率的限制。因此,亚像元精度技术得到了发展。它是利用目标像点的灰度分布特性,通过内插细分算法,确定出像点位置。可将定位精度提高1~2个数量级。本文介绍了几种实现目标像点亚像素定位的内插细分算法。对它们的计算公式、特点进行了分析,并进行了实验验证。
关 键 词:面阵探测器 定位精度 分辨率 亚像元精度技术 目标像点 灰度分布特性 内插细分算法
分 类 号:TN206]
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