期刊文章详细信息
基于边界扫描技术的板级BIT设计及测试策略
Design Method of PCB Built-in Test and Testing Strategy Based on Boundary Scan Technology
文献类型：期刊文章
机构地区：[1]空军雷达学院雷达系统工程系,武汉430019 [2]华中科技大学电子与信息工程系,武汉430074
年 份：2003
卷 号：25
期 号：6
起止页码：1-4
语 种：中文
收录情况：BDHX、BDHX2000、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、JST、ZGKJHX、核心刊
摘 要：随着超大规模集成电路 (VLSI)、表面安装器件 (SMD)、多层印制电路板 (MPCB)等技术的发展 ,常规BIT设计面临挑战。为解决上述问题 ,本文提出了一种基于边界扫描技术的板级BIT的扫描器件置入法及其测试策略。该方法操作简单 ,经济实用 ,一旦广泛使用 ,无疑将会有很好的军事经济效益。
关 键 词：边界扫描 BIT 测试策略 超大规模集成电路 表面安装器件 多层印制电路板
分 类 号：TN406]
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