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期刊文章详细信息

一种新颖的集成电路版图验证方法    

A New Method for Layout Verification of Integrated Circuits

  

文献类型:期刊文章

作  者:汤炜[1] 林争辉[1] 朱以南[1] 肖世红[1]

机构地区:[1]上海交通大学大规模集成电路研究所,上海200030

出  处:《微电子学》

年  份:2003

卷  号:33

期  号:2

起止页码:113-117

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、IC、INSPEC、JST、ZGKJHX、核心刊

摘  要: 版图验证是集成电路设计的瓶颈之一。文章全面系统地阐述了超大规模集成电路LVS版图验证的原理、方法和基本的流程,着重介绍了基于Dracula开发的CMOS、Bipolar和ABCD(AdvancedBipolarCMOSDMOS)工艺的LVS命令文件,在解决以上工艺的电路LVS的过程中,取得了令人满意的效果。

关 键 词:超大规模集成电路 版图验证 VLSI Dracula语言  LDMOS LVS工具  

分 类 号:TN47]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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