期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]中国西南应用磁学研究所,四川绵阳621000
年 份:2003
卷 号:34
期 号:2
起止页码:1-3
语 种:中文
收录情况:CAS、CSCD、CSCD_E2011_2012、普通刊
摘 要:基于晶粒表层自旋波共振模型对有效线宽行为的成功解释,提出在多晶中存在一个由晶粒表层自旋波系统到晶格的弛豫过程,这一弛豫过程在非共振区是微波能量损耗的主渠道。
关 键 词:微波铁氧体 损耗 铁磁共振 有效线宽
分 类 号:TM277.3[材料类] TM277.4]
参考文献:
正在载入数据...
二级参考文献:
正在载入数据...
耦合文献:
正在载入数据...
引证文献:
正在载入数据...
二级引证文献:
正在载入数据...
同被引文献:
正在载入数据...