文献类型：期刊文章

作　　者：赵天绪[1] 段旭朝[2] 马佩军[1] 郝跃[1]

机构地区：[1]西安电子科技大学微电子所,西安710071 [2]宝鸡文理学院计算与信息研究所,宝鸡721007

出　　处：《Journal of Semiconductors》

基　　金：国家科技攻关和陕西省教育厅科研计划 ( No.0 2 JK194)资助项目~~

年　　份：2003

卷　　号：24

期　　号：5

起止页码：544-549

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EBSCO、EI、IC、INSPEC、JST、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率 ,并给出了其计算模型 .实例模拟表明 ,与传统的成品率分析方法相比 ,该模型预测 IC成品率具有更高的精度 .

关 键 词：关键面积 冗余集成电路  成品率 故障  缺陷  

分 类 号：TN431]