文献类型：期刊文章

作　　者：游善红[1] 郝素君[1] 殷宗敏[1] 李新碗[1]

机构地区：[1]上海交通大学光纤技术研究所,上海200030

出　　处：《光子学报》

年　　份：2003

卷　　号：32

期　　号：4

起止页码：409-412

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：对单模光纤中弯曲损耗随弯曲半径 ( 1～ 8mm)和波长 ( 15 30～ 15 65nm)变化的实验进行了测试 ,结果显示弯曲损耗随弯曲半径和波长呈现振荡 .理论分析表明由于光纤纤芯中的基模和在包层以及涂覆层中传播的Whispering gallery模式之间的耦合 ,引起了弯曲损耗的振荡 。

关 键 词：单模光纤 弯曲损耗 测试  分析  弯曲半径  波长 振荡 耦合  光纤通信

分 类 号：TN253] TN929.11