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期刊文章详细信息

LED光色电综合性能分析测试原理与仪器    

LED Photometric, Chromatric, Electric Characteristics Analysis System

  

文献类型:期刊文章

作  者:潘建根[1]

机构地区:[1]杭州远方仪器有限公司,浙江杭州310053

出  处:《液晶与显示》

年  份:2003

卷  号:18

期  号:2

起止页码:138-140

语  种:中文

收录情况:AJ、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD_E2011_2012、EBSCO、IC、INSPEC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、普通刊

摘  要:光色电综合性能参数是LED的主要技术指标,LED光色电综合性能的准确快速测量,对LED研发、制造和品质具有重要意义。本文介绍了LED光色电综合性能分析测试原理和仪器的主要技术指标,仪器满足CIE推荐标准条件。

关 键 词:LED 光色电综合性能分析  测试原理  测试仪器 CIE标准条件  技术指标 发光二极管

分 类 号:TN312.8] TN874

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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