登录    注册    忘记密码

期刊文章详细信息

发光隧道结表面粗糙度的隧道显微镜研究  ( EI收录)  

Surface roughness study of light-emitting tunnel junction with scanning tunnelling microscope

  

文献类型:期刊文章

作  者:江孟蜀[1] 舒启清[2]

机构地区:[1]渝州大学物理系,重庆630033 [2]重庆大学应用物理系,重庆630044

出  处:《光学学报》

基  金:国家自然科学基金会的资助

年  份:1992

卷  号:12

期  号:1

起止页码:78-82

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX1992、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:本文报道用扫描隧道显微镜(STM)在空气中观测淀积在100nm厚的CaF_2薄膜上的Al-Al_2O_3-Au发光隧道结表面的研究成果.在观测中首次发现结表面呈现出横向相关长度分别为30~70nm和3~5nm的两种粗糙度;横向相关长度小的粗糙度被横向相关长度大的所调制.这种横向相关长度为3~5nm的表面粗糙度的存在与Laks和Mills预期的表面随机粗糙隧道结发光理论值一致.

关 键 词:发光 隧道结 表面粗糙度 SPP STM

分 类 号:O484.5]

参考文献:

正在载入数据...

二级参考文献:

正在载入数据...

耦合文献:

正在载入数据...

引证文献:

正在载入数据...

二级引证文献:

正在载入数据...

同被引文献:

正在载入数据...

版权所有©重庆科技学院 重庆维普资讯有限公司 渝B2-20050021-7
 渝公网安备 50019002500408号 违法和不良信息举报中心