期刊文章详细信息
发光隧道结表面粗糙度的隧道显微镜研究 ( EI收录)
Surface roughness study of light-emitting tunnel junction with scanning tunnelling microscope
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]渝州大学物理系,重庆630033 [2]重庆大学应用物理系,重庆630044
基 金:国家自然科学基金会的资助
年 份:1992
卷 号:12
期 号:1
起止页码:78-82
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX1992、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:本文报道用扫描隧道显微镜(STM)在空气中观测淀积在100nm厚的CaF_2薄膜上的Al-Al_2O_3-Au发光隧道结表面的研究成果.在观测中首次发现结表面呈现出横向相关长度分别为30~70nm和3~5nm的两种粗糙度;横向相关长度小的粗糙度被横向相关长度大的所调制.这种横向相关长度为3~5nm的表面粗糙度的存在与Laks和Mills预期的表面随机粗糙隧道结发光理论值一致.
关 键 词:发光 隧道结 表面粗糙度 SPP STM
分 类 号:O484.5]
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