文献类型：期刊文章

作　　者：丁有光[1] 宋红艳[1]

机构地区：[1]铁道部株洲电力机车工厂计量理化中心,湖南省株洲市412001

出　　处：《光谱实验室》

年　　份：1992

卷　　号：9

期　　号：1

起止页码：82-85

语　　种：中文

收录情况：CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、RSC、普通刊

摘　　要：本文提出用空气-乙炔和笑气-乙炔火焰连续测定结晶硅中铁、钙、铜、镍和铝。探讨了共存元素对钙的干扰及其消除。测定范围为n×10^(-1)-10^(-3)%,方法相对标准偏差小于8%,适应于日常分析结晶硅中的杂质。文献提出用重量法、容量法测定结晶硅中铝、钙、铁,该法操作繁琐,速度慢、不能满足日常生产需要。文献提出用容量法测定结晶硅中铝、铁、钙,以氰化钾作掩蔽剂,方法虽然准确、可靠,但使用了极毒药品,污染环境。文献提出用原子发射光谱分析结晶硅中杂质,该法速度快,但误差大,仪器昂贵。经参考上述有关资料分析对比后,本文提出用原子吸收光谱法连续测定结晶硅中铁、钙、铜、镍和铝。该法具有操作简单、速度快、干扰少、准确度高的特点,既适应成批又适应个别试样分析。

关 键 词：结晶  硅 多元素分析  AAS法 杂质  

分 类 号：O613.72]