期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]西安工程科技学院信息控制系,陕西西安710048 [2]西安工业学院数理系,陕西西安710032
基 金:兵器工业部科研基金资助项目 ( 2 2 96 82 -3)
年 份:2002
卷 号:16
期 号:4
起止页码:322-325
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:在薄膜厚度监控系统的光电检测中 ,针对信号特征 ,提出了微弱信号的双锁相检测思想 ,并研制了一套多级放大器和双锁相放大器 .其输出信噪比≥ 50 0 ,静态漂移率≤ 7% / h.膜厚监控测试实验肯定了该思想和电路设计 .
关 键 词:检测电路 锁相放大器 信噪比 漂移率 光电检测器
分 类 号:TH741.1] TN91[仪器类]
参考文献:
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引证文献:
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同被引文献:
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