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期刊文章详细信息

扫描电镜中X射线荧光能谱分析——改善分析灵敏度的一种方法    

Energy Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis in Scanning Electron Microscope—A New Technique to Improve Analysis Sensitivity

  

文献类型:期刊文章

作  者:姚子华[1] 仇满德[1] 章一鸣[2]

机构地区:[1]河北大学理化分析中心 [2]中国科学院科学仪器厂

出  处:《电子显微学报》

年  份:1992

卷  号:11

期  号:2

起止页码:152-156

语  种:中文

收录情况:CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:本文描述了我们在扫描电镜中用于X射线荧光分析的附加装置。对电子激发和X射线激发得到的能谱进行了比较。结果表明,在扫描电镜中用X射线荧光得到的能谱,峰背比(P/B)有明显的提高,能检测出样品中的微量元素。将本实验结果与JEOL的报导和用Tracor Xray公司的装置所做的实验结果相比较,说明本实验的装置在峰背比、束斑尺寸等方面都有明显的改善。在我们的实验中,原级X射线束斑直径小于1.

关 键 词:扫描电镜 X射线 能谱仪 荧光

分 类 号:TH838.2[仪器类]

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