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薄层树脂相吸光光度法测定痕量钼的研究
STUDY ON THE DETERMINATION OF TRACE MO(Ⅵ) BY THIN LAYER RESIN PHASE SPECTROPHOTOMETRY
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]华中科技大学环境科学与工程学院,武汉430074 [2]河南省平顶山师范高等专科学校化学系,平顶山467002
基 金:河南省自然科学基金
年 份:2002
卷 号:18
期 号:6
起止页码:564-568
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2000、CAS、CSCD、CSCD2011_2012、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:在酸性条件下,建立了以薄层树脂相吸光光度法测定钼的新方法.此法灵敏度高 (ε402=1.0×105L/mol@cm),比水相光度法提高24倍 (ε水相= 4.2×103L/mol@cm),精密度好 (检测6次,RSD=1.21%).工作曲线线性范围 (25ml体积) 0~18μg,测定天然水中钼,加标回收率为95%~105%.
关 键 词:测定 薄层树脂相吸光光度法 钼 痕量分析 水样
分 类 号:O614.612] O66[化学类]
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