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期刊文章详细信息

远红外非晶Ge-Se-Te薄膜的制备与性能研究    

Study of far-infrared Ge-Se-Te amorphous films

  

文献类型:期刊文章

作  者:范策[1] 刘自军[2] 顾辰杰[1,2] 沈祥[2] 徐铁峰[2,3] 陈益敏[1,2,3]

FAN Ce;LIU ZiJun;GU ChenJie;SHEN Xiang;XU TieFeng;CHEN YiMin(School of Physical Science and Technology,Ningbo University,Ningbo 315211,China;Zhejiang Provincial Key Laboratory of Optoelectronic Detection Materials and Devices,the Research Institute of Advanced Technologies,Ningbo University,Ningbo 315211,China;Ningbo Solartrum Co.Ltd.,Ningbo 315105,China)

机构地区:[1]宁波大学物理科学与技术学院,宁波315211 [2]宁波大学高等技术研究院,浙江省光电探测材料及器件重点实验室,宁波315211 [3]宁波阳光和谱光电科技有限公司,宁波315105

出  处:《中国科学:物理学、力学、天文学》

基  金:国家自然科学基金(编号:U21A2056,62374096,62075110);浙江省自然科学基金/重大项目/创新群体项目(编号:LDT23F05012F05)资助。

年  份:2025

卷  号:55

期  号:8

起止页码:283-290

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2023、核心刊

摘  要:本文采用熔融淬冷法制备了Ge_(20)Se_(60)Te_(20)和Ge_(20)Se_(20)Te_(60)硫系玻璃,并使用电子束蒸发法制备了Ge_(20)Se_(60)Te_(20)和Ge_(20)Se_(20)Te_(60)远红外非晶硫系薄膜.结合XRD、AFM、拉曼光谱、傅里叶光谱等技术,研究发现制备得到的非晶硫系薄膜能完全继承块体玻璃的结构,以及良好的远红外光学和热学性能.此外,该远红外非晶硫系薄膜具备亚波长厚度且无缺陷,以及极低的表面粗糙度、较低的光学损耗、极高的光学折射率.通过优化电子束蒸发实验参数,能高效可控制备得到~8μm厚的Ge_(20)Se_(20)Te_(60)薄膜,在8–14μm范围内,其折射率约为3.12,消光系数小于0.015,平均透过率接近70%.该薄膜的开发有利于远红外光子器件的研制,可用于如远红外高透的异质超构透镜应用.

关 键 词:非晶硫系薄膜  电子束蒸发沉积  远红外光学特性  

分 类 号:O484]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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