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期刊文章详细信息

基于LM算法改进BP神经网络的薄膜电阻高精度测量    

High-precision Measurement of Thin Film Resistance Based on LM Algorithm to Improve BP Neural Network

  

文献类型:期刊文章

作  者:张钰[1] 王琰[1] 彭正凤[2] 马俊杰[2] 王静[3]

ZHANG Yu;WANG Yan;PENG Zhengfeng;MA Junjie;WANG Jing(School of Communication Engineering,Tongda College of Nanjing University of Posts and Telecommunications,Yangzhou 225127,China;School of Computer Engineering,Tongda College of Nanjing University of Posts and Telecommunications,Yangzhou 225127,China;Department of Basic Education,Tongda College of Nanjing University of Posts and Telecommunications,Yangzhou 225127,China)

机构地区:[1]南京邮电大学通达学院通信工程学院,江苏扬州225127 [2]南京邮电大学通达学院计算机工程学院,江苏扬州225127 [3]南京邮电大学通达学院基础教学部,江苏扬州225127

出  处:《大学物理实验》

基  金:江苏省高等学校自然科学基金(20KJB140006);南京邮电大学通达学院大学生科技创新训练计划(202413989022Y)。

年  份:2025

卷  号:38

期  号:2

起止页码:64-69

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:在半导体工艺中,电阻测量极其关键。传统四探针法在测量薄膜的电阻时,需对范德堡函数进行非线性拟合,不仅耗时较长,且精度较差。针对该现象提出了一种基于Levenberg-Marquardt(LM)算法的Back propagation neural network(BPNN)神经网络模型。LM算法结合了梯度下降法和牛顿法的优点,在迭代过程中快速接近全局最小值,且对于局部最小值的陷落情况优于纯梯度下降法,结合BP神经网络的反向传播误差来调整权重,从而实现复杂非线性函数的拟合。对含反双曲余弦的超越函数(范德堡函数)的局部参数进行非线性拟合,得到最大偏差为2.08×10^(-5),相对标准偏差为2.16×10^(-8)的神经网络拟合模型,对比规范化多项式拟合方法精度提升99.5%。此改进方法,可极大提高测量结果的稳定性与精确性,将模型运用于实验测量过程,有效改善了电阻率测试精度。

关 键 词:BP神经网络 范德堡法  非线性函数拟合  电阻率测量 LM算法

分 类 号:TP183]

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同被引文献:

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