期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]沈阳地泰检测设备有限公司
年 份:2012
卷 号:0
期 号:A02
起止页码:116-116
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:描述了由美国X-SCAN公司生产的400um像素大小的X射线阵列探测器系统的设计,此探测器系统集信号探测、模拟信号放大、数字信号处理与输出于一体,有多种控制功能可供选择,可方便地与计算机连接,实现图像或信号的数字化处理。可广泛的应用于各种无损检测领域。
关 键 词:X射线阵列探测器 闪烁体
分 类 号:TH878.1[仪器类]
参考文献:
正在载入数据...
二级参考文献:
正在载入数据...
耦合文献:
正在载入数据...
引证文献:
正在载入数据...
二级引证文献:
正在载入数据...
同被引文献:
正在载入数据...