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期刊文章详细信息

400um像素X射线阵列探测器的设计    

  

文献类型:期刊文章

作  者:张锐[1]

机构地区:[1]沈阳地泰检测设备有限公司

出  处:《工业设计》

年  份:2012

卷  号:0

期  号:A02

起止页码:116-116

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:描述了由美国X-SCAN公司生产的400um像素大小的X射线阵列探测器系统的设计,此探测器系统集信号探测、模拟信号放大、数字信号处理与输出于一体,有多种控制功能可供选择,可方便地与计算机连接,实现图像或信号的数字化处理。可广泛的应用于各种无损检测领域。

关 键 词:X射线阵列探测器  闪烁体

分 类 号:TH878.1[仪器类]

参考文献:

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同被引文献:

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