文献类型：期刊文章

作　　者：陈建军[1,2] 崔继承[1] 刘嘉楠[1,2] 刘建利[1,2] 姚雪峰[1] 杨晋[1] 孙慈[1]

Chen Jianjun;Cui Jicheng;Liu Jianan;Liu Jianli;Yao Xuefeng;Yang Jin;Sun Ci(National Engineering Research Centre for Diffraction Gratings Manufacturing and Application,Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,Chinese Academy of Sciences,Changchun,Jilin130033,China;Daheng College,University of Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China)

机构地区：[1]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所国家光栅制造与应用工程技术研究中心,吉林长春130033 [2]中国科学院大学大珩学院,北京100049

出　　处：《光学学报》

基　　金：国家重大科学仪器设备开发专项(2014YQ12035102);国家973计划(2014CB049500)

年　　份：2019

卷　　号：39

期　　号：2

起止页码：17-22

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2019_2020、EI、JST、RCCSE、RSC、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：在短波红外成像光谱技术的应用背景下,对HgCdTe短波红外焦平面探测器的校正技术进行研究,包括坏像元校正和非均匀性校正,并提出先进行坏像元校正后进行非均匀性校正的探测器校正原则;在标准辐射源下,对正常像元的输出值进行正态分布拟合,并通过3σ准则设定正常像元输出值阈值的方法,确定探测器中坏像元的数量与位置,然后根据短波红外成像光谱技术的应用要求,对坏像元进行光谱二邻域均值替换;坏像元校正完成后,再采用运算量小、实时性强的两点法对探测器进行非均匀性校正。综合校正结果表明:探测器坏像元得到有效剔除,坏像元输出值得到良好校正,且非均匀性校正效果明显,图像细节更加丰富。

关 键 词：探测器 校正技术  HGCDTE 红外焦平面探测器 坏像元校正  非均匀性校正

分 类 号：TN215]