文献类型：期刊文章

作　　者：王子涵[1,2] 袁晓兵[1,2]

WANG Zihan;YUAN Xiaobing(Shanghai Institute of Microsystem and Information Technology,University of Chinese Academy of Sciences,Shanghai 201210,China;School of Information Science and Technology,ShanghaiTech University,Shanghai 200050,China)

机构地区：[1]中国科学院大学上海微系统与信息技术研究所,上海201210 [2]上海科技大学信息科学与技术学院,上海200050

出　　处：《现代电子技术》

基　　金：微系统技术实验室基金项目(6142804230103)。

年　　份：2024

卷　　号：47

期　　号：19

起止页码：87-93

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2023、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：基于参考图像的图像超分辨率(Ref-SR)技术将高分辨率(HR)参考图像导入单输入图像超分辨率(SISR)方法中,利用参考图像中转移的纹理缓解了此方法中长期存在的不适定问题。尽管定量和定性结果的显著提升已经验证了Ref-SR方法的优越性,但在纹理转移之前存在的不对齐问题表明该方法中还有进一步提高性能的空间。现有方法忽视了在对齐特征时细节的重要性,因此没有充分利用低分辨率(LR)图像中包含的信息。文中提出一种基于细节增强框架(DEF)的参考图像超分辨率方法,该方法引入扩散模型来生成和增强LR图像中的潜在细节。如果参考图像中存在对应部分,设计方法可以使得图像特征的对齐更为准确;在参考图像缺少对应部分的情况下,LR图像中的细节仍然得到了增强,同时避免了参考图像转移错误纹理的影响。大量实验表明,提出的方法相比于以往方法在数值结果相仿的前提下取得了优越的视觉效果。

关 键 词：图像超分辨率 参考图像 不适定问题 相关对齐  纹理转移  扩散模型  

分 类 号：TN911.73-34]