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期刊文章详细信息

一种温度自适应硅光电倍增管偏压设计及验证    

Design and Verification of SiPM Temperature-Adaptive Bias Voltage

  

文献类型:期刊文章

作  者:刘涛[1] 肖明[1,2] 胡锐[1]

LIU Tao;XIAO Ming;HU Rui(CGN Jiuyuan(Chengdu)Science and Technology Co.Ltd.,Chengdu 610041,China;Chengdu University of Technology,Chengdu 6100001,China)

机构地区:[1]中广核久源(成都)科技有限公司,成都610041 [2]成都理工大学,成都610000

出  处:《核电子学与探测技术》

年  份:2024

卷  号:44

期  号:3

起止页码:479-485

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2023、CAS、JST、核心刊

摘  要:本文根据SiPM击穿电压(V_(br))随温度变化的关系,结合PTC热敏电阻和低压差线性稳压器(LDO)的输入输出特性,设计了一种温度自适应硅光电倍增管偏压电路。并在-20~30℃的温度范围内分为实验组和对照组进行了电压稳定性、纹波测试、温度相关性测试和计数率测试,其中实验组为温度自适应偏压输出,对照组为固定偏压输出。测试结果表明,在设定温度范围内,实验组的过载电压变化较小,比对照组过载电压变化小1.01V,变化率由25.5%变为1.9%,计数率变化从对照组的30%变为1.6%,实验组的计数率变化呈低温度相关性,计数率在100~106次/s之间变化,而对照组计数率明显随温度上升而降低。表明使用本偏压电路时SiPM具有较好的温度稳定性。

关 键 词:SIPM 温度自适应 偏压

分 类 号:TL81]

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