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Bi_(3.79)Er_(0.03)Yb_(0.18)Ti_(2.97)W_(0.03)O_(12):xSi上转换荧光体的结构和性能
Structure and Properties of Nano-Silicon Doped Bi_(3.79)Er_(0.03)Yb_(0.18)Ti_(2.97)W_(0.03)O_(12)∶xSi Upconversion Phosphor
文献类型:期刊文章
Zhou Jinlei;Lei Xihu;Zou Benshan;Shen Yingqiang;Gao Feng(Guangxi Key Laboratory of Nonferrous Metals and Characteristic Materials Processing,School of Resources,Environment and Materials,Guangxi University,Nanning 530004,Guangxi,China)
机构地区:[1]广西大学资源环境与材料学院,广西有色金属及特色材料加工重点实验室,广西南宁530004
年 份:2023
卷 号:60
期 号:13
起止页码:230-236
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2020、CSCD、CSCD2023_2024、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:通过高温固相烧结法制备出一系列Si掺杂的Bi_(3.79)Er_(0.03)Yb_(0.18)Ti_(2.97)W_(0.03)O_(12):xSi荧光体,探索其结构和上转换荧光性能。实验与测试结果表明,在不同气氛下制备的Bi_(3.79)Er_(0.03)Yb_(0.18)Ti_(2.97)W_(0.03)O_(12)∶xSi荧光体均为单一层状类钙钛矿结构的Bi_(4)Ti_(3)O_(12)相。Si在荧光体中以Si^(4+)为主,说明即使在氩气氛围中,掺入的大部分Si也发生了氧化。Si掺杂增加了材料的致密性和表面平整度,同时减小了材料的光学带隙并增强了光吸收。在980 nm红外光激发下,所有样品的上转换发射光谱均显示以525 nm、545 nm和765 nm为中心的三个发射带,分别对应Er^(3+)4f电子层内的电子跃迁。掺硅6%摩尔分数的样品的发光强度和荧光寿命约为未掺杂Si的样品2倍,表明Si掺杂可以明显提升稀土掺杂钛酸铋基荧光体的光致发光性能。
关 键 词:材料 上转换荧光 光吸收 光学带隙 荧光寿命
分 类 号:TB34[材料类]
参考文献:
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