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扫描探针显微镜与外接电场联用技术在本科教学中的应用探索
Exploration of Scanning Probe Microscope and External Electric Field Combined Technology in Undergraduate Teaching
文献类型:期刊文章
Li Yang;Sun Zhaoyuan;Xu Chengyan;Zhen Liang(School of Materials Science and Engineering,Harbin Institute of Technology,Harbin,150001,China;Center for Analysis and Measurements,Harbin Institute of Technology,Harbin,150080,China;School of Materials Science and Engineering,Harbin Institute of Technology(Shenzhen),Shenzhen,518055,China)
机构地区:[1]哈尔滨工业大学材料科学与工程学院,黑龙江哈尔滨150001 [2]哈尔滨工业大学分析测试中心,黑龙江哈尔滨150080 [3]哈尔滨工业大学(深圳)材料科学与工程学院,广东深圳518055
年 份:2023
期 号:13
起止页码:3-6
语 种:中文
收录情况:普通刊
摘 要:扫描探针显微镜是表征材料形貌特征、电学、力学、热学、磁学等物理性质的重要测试仪器之一,已列入很多工科院校仪器分析方法相关课程中。扫描探针显微镜具有开放性高、可改造能力强的特点,在实践教学中不仅向学生展示扫描探针显微镜自身的功能及应用领域,而且将扫描探针显微镜与外接电场联用,实现原位表征材料在外接电场调制作用下物理性质的变化。通过实践教学,一方面激发学生对仪器改造强烈的好奇心;另一方面为学生在材料性能分析与表征方面提供一个开放性思路,为后续的科学研究提供强有力的理论和实践的支持。
关 键 词:扫描探针显微镜 原位表征 物理性能 电场调制
分 类 号:G434[教育学类]
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