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期刊文章详细信息

qPlus型原子力显微镜技术    

qPlus sensorbased atomic force microscope

  

文献类型:期刊文章

作  者:彭金波[1,2] 江颖[3,4]

PENG Jin-Bo;JIANG Ying(Tsung-Dao Lee Institute,Shanghai Jiao Tong University,Shanghai 200240,China;School of Physics and Astronomy,Shanghai Jiao Tong University,Shanghai 200240,China;International Center for Quantum Materials,School of Physics,Peking University,Beijing 100871,China;Research Center for Light-Element Advanced Materials,Peking University,Beijing 100871,China)

机构地区:[1]上海交通大学李政道研究所,上海200240 [2]上海交通大学物理与天文学院,上海200240 [3]北京大学物理学院量子材料科学中心,北京100871 [4]北京大学轻元素先进材料研究中心,北京100871

出  处:《物理》

年  份:2023

卷  号:52

期  号:3

起止页码:186-195

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2020、CAS、JST、核心刊

摘  要:扫描探针显微镜主要包括扫描隧道显微镜和原子力显微镜,其利用尖锐的针尖逐点扫描样品,可在原子和分子尺度上获取表面的形貌和丰富的物性,改变了人们对物质的研究范式和基础认知。近年来,qPlus型高品质因子力传感器的出现将扫描探针显微镜的分辨率和灵敏度推向了一个新的水平,为化学结构、电荷态、电子态、自旋态等多自由度的精密探测和操控提供了前所未有的机会。文章首先简要介绍原子力显微镜的发展历史和基本工作原理,然后重点描述qPlus型原子力显微镜技术的优势及其在单原子、单分子和低维材料体系中的应用,最后展望该技术的未来发展趋势和潜在应用。

关 键 词:扫描探针显微镜 原子力显微镜 qPlus力传感器  高分辨成像 原子分辨  

分 类 号:TH742]

参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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