期刊文章详细信息
γ射线辐照对掺Ce钛酸铋铁电薄膜性能的损伤
Damage ofγray irradiation to properties of Ce doped bismuth titanate ferroelectric thin films
文献类型:期刊文章
WANG Zan;GAO Chunxiang;ZHANG Jing;ZHANG Yuehong;XU Man(Analysis and Test Center,Shenyang University of Chemical Technology,Shenyang 110142,China)
机构地区:[1]沈阳化工大学分析测试中心,沈阳110142
基 金:辽宁省教育厅项目基金(LJ2019012)资助。
年 份:2022
卷 号:40
期 号:6
起止页码:15-22
语 种:中文
收录情况:CAS、CSCD、CSCD2021_2022、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊
摘 要:采用溶胶-凝胶法在复合基底Pt/Ti/SiO_(2)/Si上制备系列Bi_(3.25)Ce_(0.75)Ti_(3)O_(12)(BCTO)铁电薄膜,并对薄膜进行了不同剂量的γ射线辐照。通过热重-示差扫描量热分析仪(TG-DSC)、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜-能谱仪(SEM-EDS)和铁电测试仪等对辐照前后的薄膜的结构、微观形貌、铁电性、漏电性以及抗疲劳性等进行了对比研究。结果表明:随着对γ射线吸收剂量的增加,薄膜的晶体结构没有改变;薄膜的铁电性能显著减弱,剩余极化2Pr从辐照前的51.5μC/cm^(2)下降到23.7μC/cm^(2);薄膜的漏电流密度增大,从辐照前的0.9×10^(−7)A/cm^(2)增大到7.2×10^(−7)A/cm^(2);在经历10^(12)次开关极化循环后,部分薄膜出现疲劳现象。
关 键 词:Γ射线 BCTO铁电薄膜 铁电性 漏电性 疲劳性
分 类 号:TB34[材料类]
参考文献:
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