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期刊文章详细信息

γ射线辐照对掺Ce钛酸铋铁电薄膜性能的损伤    

Damage ofγray irradiation to properties of Ce doped bismuth titanate ferroelectric thin films

  

文献类型:期刊文章

作  者:王趱[1] 高春香[1] 张静[1] 张跃宏[1] 徐曼[1]

WANG Zan;GAO Chunxiang;ZHANG Jing;ZHANG Yuehong;XU Man(Analysis and Test Center,Shenyang University of Chemical Technology,Shenyang 110142,China)

机构地区:[1]沈阳化工大学分析测试中心,沈阳110142

出  处:《辐射研究与辐射工艺学报》

基  金:辽宁省教育厅项目基金(LJ2019012)资助。

年  份:2022

卷  号:40

期  号:6

起止页码:15-22

语  种:中文

收录情况:CAS、CSCD、CSCD2021_2022、JST、RCCSE、ZGKJHX、普通刊

摘  要:采用溶胶-凝胶法在复合基底Pt/Ti/SiO_(2)/Si上制备系列Bi_(3.25)Ce_(0.75)Ti_(3)O_(12)(BCTO)铁电薄膜,并对薄膜进行了不同剂量的γ射线辐照。通过热重-示差扫描量热分析仪(TG-DSC)、X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜-能谱仪(SEM-EDS)和铁电测试仪等对辐照前后的薄膜的结构、微观形貌、铁电性、漏电性以及抗疲劳性等进行了对比研究。结果表明:随着对γ射线吸收剂量的增加,薄膜的晶体结构没有改变;薄膜的铁电性能显著减弱,剩余极化2Pr从辐照前的51.5μC/cm^(2)下降到23.7μC/cm^(2);薄膜的漏电流密度增大,从辐照前的0.9×10^(−7)A/cm^(2)增大到7.2×10^(−7)A/cm^(2);在经历10^(12)次开关极化循环后,部分薄膜出现疲劳现象。

关 键 词:Γ射线 BCTO铁电薄膜  铁电性 漏电性  疲劳性

分 类 号:TB34[材料类]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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