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期刊文章详细信息

暗通道先验理论的绝缘子图像去雾算法    

Insulator image defogging algorithm based on dark channel prior theory

  

文献类型:期刊文章

作  者:张俊林[1] 石冬阳[1] 贾兵[1] 聂玲[1]

ZHANG Junlin;SHI Dongyang;JIA Bing;NIE Ling(School of Electrical Engineering,Chongqing University of Science and Technology,Chongqing 401331,China)

机构地区:[1]重庆科技学院电气工程学院,重庆401331

出  处:《重庆理工大学学报(自然科学)》

基  金:重庆市科技局自然科学基金项目(cstc2020jcyj-msxmX0927)。

年  份:2022

卷  号:36

期  号:7

起止页码:208-215

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2020、CAS、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:以雾霾场景下的绝缘子图像为研究目标,在原绝缘子缺陷检测模型的基础上,采用改进型暗通道先验去雾算法进行图像预处理,以提升绝缘子缺陷检测精度。为保证在图像去雾的基础上具有良好的抗噪性能,并提高图像结构相似度,在传统暗通道先验去雾算法的基础上融入高斯滤波算法与图像对数增强算法,对图像亮度进行调整以增强绝缘子图像特征信息,并对比主流去雾算法去雾后的图像性能指标。仿真结果表明:运用改进型暗通道先验去雾算法得到的图像相对于改进前算法,其PSNR值平均提升6.8 dB,图像SSIM值平均提升0.143,绝缘子缺陷检测精度提升12%。

关 键 词:雾霾 绝缘子 暗通道先验  图像亮度 缺陷检测  

分 类 号:TM853]

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同被引文献:

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