期刊文章详细信息
文献类型:期刊文章
机构地区:[1]天津大学电子信息工程学院,天津300072
基 金:天津大学985学科建设项目(X30205).
年 份:2002
卷 号:35
期 号:6
起止页码:783-786
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2000、CAS、CSA、CSA-PROQEUST、CSCD、CSCD2011_2012、EI、IC、INSPEC、JST、MR、PROQUEST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、ZMATH、核心刊
摘 要:从工程应用的角度介绍了一种新的回归方法———偏最小二乘回归,分析了传统最小二乘回归所不具有的特点.数值实例研究表明偏最小二乘回归能在自变量间存在强相关的情况下建立模型,但最小二乘回归不能.同时,电路成品率估计研究表明,在较少样本点的情况下,利用偏最小二乘回归建模进行成品率估计是行之有效的,其预测精度能满足实际电路设计和分析的要求,且大大优于最小二乘回归.
关 键 词:偏最小二乘回归 电路成品率估计 回归分析 建模方法 工程应用 电路设计
分 类 号:TB114]
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