文献类型：期刊文章

作　　者：卢明[1] 高超[1] 张世尧[1] 江渺[2] 盛从兵[3] 张宇鹏[1] 刘泽辉[1] 李黎[2]

LU Ming;GAO Chao;ZHANG Shiyao;JIANG Miao;SHENG Congbing;ZHANG Yupeng;LIU Zehui;LI Li(State Grid Henan Electric Power Research Institute,Zhengzhou 450052,China;School of Electrical and Electronic Engineering,Huazhong University of Science&Technology,Wuhan 430074,China;Puyang Power Supply Bureau,Henan Electric Power Corporation,Puyang 457000,China)

机构地区：[1]国网河南省电力公司电力科学研究院,郑州450052 [2]华中科技大学电气与电子工程学院,武汉430074 [3]国网河南省电力公司濮阳供电公司,河南濮阳457000

出　　处：《电瓷避雷器》

基　　金：国家电网有限公司总部科技项目(编号:5500-202024073A-0-0-00)。

年　　份：2022

期　　号：2

起止页码：205-212

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2020、CAS、IC、JST、RCCSE、核心刊

摘　　要：在巡线中借助红外测温装置发现了一起复合绝缘子异常发热故障。对故障绝缘子进行了红外和紫外测试、额定拉力测试、解剖观察、扫描电镜、X射线光电子能谱分析等检测试验,结果表明,复合绝缘子处于酥朽老化早期发展阶段,酥朽芯棒表面局部放电电流的热效应、化学效应以及从端部侵入的水分在强电场下的极化损耗共同导致了故障处异常发热。进一步分析了酥朽老化与异常发热的内在关联,指出酥朽老化发展全过程中必然伴随发热现象,且二者的初始诱因均为绝缘子内部缺陷处引发的局部放电。此外,在高温高湿环境下,水分侵入芯棒会加剧极化升温,且热量难以及时散发,此时尽管芯棒酥朽老化程度不严重,仍可能出现异常温升现象。该结论为红外测温技术应用于复合绝缘子酥朽老化诊断领域提供了理论支撑。

关 键 词：复合绝缘子 异常发热 酥朽老化  局部放电 红外测温

分 类 号：TM216[材料类]