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期刊文章详细信息

硅基GaN微腔制作及其激射特性(特邀)  ( EI收录)  

Fabrication and Lasing Properties of Silicon-based GaN Microcavities(Invited)

  

文献类型:期刊文章

作  者:马立龙[1] 谢敏超[1] 欧伟[1] 梅洋[1] 张保平[1]

MA Lilong;XIE Minchao;OU Wei;MEI Yang;ZHANG Baoping(Laboratory of Micro/Nano-Optoelectronics,School of Electronic Science and Engineering,Xiamen University,Xiamen,Fujian 361005,China)

机构地区:[1]厦门大学电子科学与技术学院微纳光电子研究室,福建厦门361005

出  处:《光子学报》

基  金:国家重点研究发展计划(No.2017YFE0131500);国家自然科学基金(No.62104204);厦门大学校长基金(No.ZK1029)。

年  份:2022

卷  号:51

期  号:2

起止页码:53-61

语  种:中文

收录情况:AJ、BDHX、BDHX2020、CAS、CSCD、CSCD2021_2022、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘  要:提出了一种新的Si衬底上GaN微盘谐振腔的制备方式,避免了传统Si基GaN器件中晶体质量较差以及外延层较厚对器件性能的影响。本工作中GaN的外延生长使用蓝宝石衬底,随后将外延层转移至硅衬底上进行微盘谐振腔的制备。外延生长时靠近衬底侧的GaN富缺陷层可使用减薄抛光的方式去除,并且通过简单湿法刻蚀二氧化硅牺牲层即可实现GaN微盘与Si衬底之间的空气间隙结构。基于较好的晶体质量与低损耗的谐振腔,实现了高Q值的Si基GaN微盘谐振腔低阈值激射,阈值能量低至5.2 nJ/pulse,Q值最高为10487。同时,器件具有较好的温度稳定特性,在100℃环境下也能维持低阈值激射,为大规模单片硅基光子集成提供了高性能的激光源。

关 键 词:半导体器件与技术  微腔 氮化镓 硅  高品质因子  低阈值 高温工作  

分 类 号:TN365]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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