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偏振成像技术的发展现状与展望(特邀) ( EI收录)
Development status and prospects of polarization imaging technology (Invited)
文献类型:期刊文章
Luo Haibo;Zhang Junchao;Gai Xingqin;Liu Yan(Key Laboratory of Opto-Electronic Information Processing,Chinese Academy of Sciences,Shenyang 110169,China;Shenyang Institute of Automation,Chinese Academy of Sciences,Shenyang 110169,China;Institutes for Robotics and Intelligent Manufacturing,Chinese Academy of Sciences,Shenyang 110169,China;School of Aeronautics and Astronautics,Central South University,Changsha 410083,China;Hebei Hanguang Heavy Industry Co,Ltd,Handan 056107,China;Space Star Technology Co.,LTD,Beijing 100086,China)
机构地区:[1]中国科学院光电信息处理重点实验室,辽宁沈阳110169 [2]中国科学院沈阳自动化研究所,辽宁沈阳110169 [3]中国科学院机器人与智能制造创新研究院,辽宁沈阳110169 [4]中南大学航空航天学院,湖南长沙410083 [5]河北汉光重工有限责任公司,河北邯郸056107 [6]航天恒星科技有限公司,北京100086
年 份:2022
卷 号:51
期 号:1
起止页码:101-110
语 种:中文
收录情况:AJ、BDHX、BDHX2020、CSCD、CSCD2021_2022、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:偏振成像是一种新的光电探测体制,它可以获得比传统成像多一维的场景信息,在工业检测、生物医学、地球遥感、现代军事、航空以及海洋等领域具有重要的应用价值。论文对偏振成像的典型应用、发展历程和发展现状进行了分析和总结,总结了偏振成像的实现方法,当前学术界在场景的偏振特性、偏振的传输特性、偏振成像探测器、分焦平面偏振图像非均匀性校正、分焦平面偏振图像超分辨率重建以及偏振图像融合等领域的最新研究成果。在此基础上,对偏振成像的未来发展方向进行了展望,包括高消光比焦平面偏振探测器、分焦平面多光谱偏振探测器、高精度非均匀性校正方法、偏振图超分辨率重建方法以及强度图和偏振度/偏振角图融合方法等。
关 键 词:偏振成像 光电探测 光电抗干扰 非均匀性校正 超分辨率成像
分 类 号:TN29]
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