期刊文章详细信息
短路故障下低压开关柜电磁热耦合瞬态温升变化
Electromagnetic thermal coupling transient temperature rise of low voltage switchgear under short circuit fault
文献类型:期刊文章
LIU Jianlin;ZHUANG Hongwei;ZHU Bin;XIANG Shaobin;HANG Yuhua;LIU Tao;HU Bokai(Guangxi Fangchenggang Nuclear Power,Fangchenggang 538001,China;Suzhou Nuclear Power Research Institute,Suzhou 215004,China;State Key Laboratory of Reliability and Intelligence of Electrical Equipment Hebei University of Technology,Tianjin 300130,China;Key Laboratory of Electromagnetic Field and Electrical Apparatus Reliability of Hebei Province Hebei University of Technology,Tianjin 300130,China)
机构地区:[1]广西防城港核电有限公司,广西防城港538001 [2]苏州热工研究院有限公司,江苏苏州215004 [3]河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,天津300130 [4]河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,天津300130
基 金:国家自然科学基金项目(51077038)。
年 份:2021
卷 号:41
期 号:6
起止页码:1138-1147
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2020、CAS、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊
摘 要:低压开关柜内部包含多个开关元件,结构复杂,存在多个电接触部位,短路故障会导致开关柜内部温度增高,若内部部件发生接触不良会加剧温升,降低低压开关柜的运行可靠性,严重情况会导致该处发生熔断、绝缘损坏和拉弧短路等故障。以一起LKM0201开关柜短路跳闸事故为研究对象,分析该故障原因,建立LKM0201开关柜仿真模型,应用有限元分析软件ANSYS Workbench的Maxwell模块和Transient Thermal模块进行电磁热耦合瞬态仿真分析,研究短路故障对开关柜内部运行的影响,分析故障处在接触良好和接触不良2种情况下内部的温升差异,得出开关柜内部各部件的瞬态温升变化,并将仿真结果与实际故障对比。研究表明:当开关柜发生短路故障时,内部连接处发生接触不良的情况下,开关柜内部接触电阻增大、瞬态损耗增加。短路电路流经时开关柜内部温度升高,接触不良处温升更加剧烈,该温度将高于绝缘材料耐受温度并引起材料变形甚至融化,最终引起绝缘损坏,发生拉弧短路,温升过高可能会出现熔焊甚至熔断现象。仿真结果与事故照片具有较好的一致性,同时该方法具有较好的通用性。
关 键 词:低压开关柜 短路故障 接触电阻 接触不良 瞬态电磁热耦合仿真 温升
分 类 号:TM591]
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