文献类型：期刊文章

作　　者：王维[1] 王杰[1] 黄易杨[1] 岳慧敏[1] 刘永[1]

Wang Wei;Wang Jie;Huang Yiyang;Yue Huimin;Liu Yong(School of OptoElectronic Science and Engineering,Universitity of Electronic Science and Technology of China,Chengdu,Sichncvi 611731,China)

机构地区：[1]电子科技大学光电科学与工程学院,四川成都611731

出　　处：《光学学报》

基　　金：国家自然科学基金(62075032)。

年　　份：2021

卷　　号：41

期　　号：18

起止页码：120-127

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2020、CAS、CSCD、CSCD2021_2022、EAPJ、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：玻璃、透镜等透明物体在光学系统中有广泛的应用,表面质量优劣对系统性能有较大的影响。利用光的偏振特性,提出一种基于偏振透射结构光的表面缺陷检测方法。利用所搭建的透射系统产生偏振透射条纹结构光,该结构光投射到被测物体表面,经被测物体后发生变形;然后采集变形条纹,提取相位信息,解出调制度,得到被测物体的表面缺陷信息。实验结果表明:所提方法能够消除灰尘的影响,并可以有效提高系统信噪比,有望用于平板厚透镜、大曲率光学透镜等透明物体的缺陷检测。

关 键 词：测量  表面缺陷检测 透射光学元件  偏振透射结构光  条纹调制度  

分 类 号：O436]