文献类型：期刊文章

作　　者：王家伟[1] 魏鹏[2] 马伯轩[3] 李德红[3] 郭彬[3]

WANG Jiawei;WEI Peng;MA Boxuan;LI Dehong;GUO Bin(Anhui Institute of Metrology,Hefei 230051,China;Fujian Institute of Metrology,Fuzhou 350003,China;National Institute of Metrology,Beijing 100029,China)

机构地区：[1]安徽省计量科学研究院,合肥230051 [2]福建省计量科学研究院,福州350003 [3]中国计量科学研究院,北京100029

出　　处：《计量科学与技术》

基　　金：国家重点研发计划资助(2018YFF0212403)。

年　　份：2021

卷　　号：65

期　　号：8

起止页码：3-6

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：为了保证诊断X射线设备应用的安全有效,针对三种型号的多参数测量仪,分析了测量过程中可能对半值层测量产生影响的诸多因素,比如X射线管电压、管电流、曝光时间、半值层仪的摆放位置等,设计多组对照试验。试验结果显示,管电压的偏差会导致半值层的改变,合适的曝光时间可以获得更加稳定的测量结果。

关 键 词：半值层  诊断X射线  管电压 管电流 曝光时间  

分 类 号：TH774[仪器类]