文献类型：期刊文章

作　　者：邹峰[1] 张官扬[1] 郑天雄[1] 刘自胜[1]

ZOU Feng;ZHANG Guan-yang;ZHENG Tian-xiong;LIU Zi-sheng(School of Mechanical Engineering,Hubei University of Technology,Hubei Key Laboratory of Modern Manufacturing Quality Engineering,Wuhan 430068,China)

机构地区：[1]湖北工业大学机械工程学院,湖北省现代制造质量工程重点实验室,湖北武汉430068

出　　处：《仪表技术与传感器》

年　　份：2021

期　　号：5

起止页码：122-126

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2020、CSCD、CSCD_E2021_2022、IC、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出了一种基于光学干涉条纹拼接方法,来对待测距离进行测量研究。理论过程中,基于光学干涉原理,建立了单频光测距离理论模型。实验过程中,搭建了基于光学干涉方法的测距实验装置。在待测距离实验装置搭建完成后,进行了光路调节来产生光学干涉,得到干涉条纹。实验数据处理过程中,基于光学干涉条纹时域信号进行了条纹拼接,得到了拼接干涉条纹。最后对拼接干涉条纹进行了频谱分析,结果显示,待测距离为21.81 m,测距统计误差为0.08 m。

关 键 词：光学干涉  测距实验装置  干涉条纹 条纹拼接  待测距离  

分 类 号：TH711]