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期刊文章详细信息

半导体晶圆的污染杂质及清洗技术分析    

  

文献类型:期刊文章

作  者:王本义[1] 谷德鑫[2] 邱书媛[3]

机构地区:[1]沈阳芯源微电子设备股份有限公司 [2]沈阳隆泰机械制造有限公司 [3]沈阳航新非标设备制造有限公司,辽宁沈阳110000

出  处:《中国设备工程》

年  份:2021

期  号:9

起止页码:215-216

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:半导体晶圆是当前常用的一种硅晶片材料,主要应用于制作硅半导体电路,是将高纯度多晶硅溶解后,掺入硅晶体晶种,拉出形成圆柱形单晶硅。此类材料在电路中有着非常广泛的应用,但其中可能会存在一些污染杂质,导致电路质量受到影响,也可能造成比较严重的材料损失。本文对半导体晶圆的主要污染杂质进行分析,明确常用的清洗技术,采取有效方法进行处理,从而提高半导体晶圆的质量,并确保其应用效果。

关 键 词:半导体晶圆  污染杂质  清洗技术

分 类 号:TN305.97]

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