文献类型：期刊文章

作　　者：李敏[1] 宋五洲[1] 湛位[1] 吴荣耀[1] 邱锦华[1]

LI Min;SONG Wuzhou;ZHAN Wei;WU Rongyao;QIU Jinhua(Center for Joining and Electronic Packaging,School of Materials Science and Engineering,Huazhong University of Science and Technology,Wuhan 430074,China)

机构地区：[1]华中科技大学材料科学与工程学院连接与电子封装中心,武汉430074

出　　处：《光子学报》

基　　金：华中科技大学人才引进基金(No.3004110112)。

年　　份：2021

卷　　号：50

期　　号：4

起止页码：39-45

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2020、CAS、CSCD、CSCD2021_2022、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、WOS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：提出了一种光纤折射率分布的测量方法,采用白光扫描干涉技术,并在参考镜上构造与光纤样品相同的结构来克服白光相干长度短的限制,优化了光路,提高了干涉条纹间的对比度。采用与白光干涉信号的包络线呈高斯分布的Morlet小波作为小波变换的母小波进行拟合处理,得到光纤与已知折射率的匹配液之间的相对高度。通过计算获得光纤的折射率分布,并对获得的数据采用光纤折射率分布的经典函数进行拟合,得到多模光纤和单模光纤的决定系数分别为0.997 2和0.996 4。最后将实验获得的结果与官方参数进行比较,误差为0.01%,表明该种方法测量的精度较高,完全可以用来测量光纤的折射率。

关 键 词：干涉仪 扫描显微镜 折射率剖面 光纤测量 条纹分析

分 类 号：TN253]