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期刊文章详细信息

玻璃通孔技术研究进展    

Development of Through Glass Via Technology

  

文献类型:期刊文章

作  者:陈力[1] 杨晓锋[1] 于大全[1,2]

CHEN Li;YANG Xiaofeng;YU Daquan(School of Electronic Science and Engineering,Xiamen University,Xiamen 361000,China;Xiamen Sky Semiconductor Co.,Ltd.,Xiamen 361026,China)

机构地区:[1]厦门大学电子科学与技术学院,福建厦门361000 [2]厦门云天半导体科技有限公司,福建厦门361026

出  处:《电子与封装》

基  金:国家自然科学基金(61974121)。

年  份:2021

卷  号:21

期  号:4

起止页码:1-13

语  种:中文

收录情况:普通刊

摘  要:近年来,随着5G、可穿戴设备、智能手机、汽车电子、人工智能等新兴领域蓬勃兴起,集成电路应用正向着多元化应用方向发展,先进三维封装技术也逐渐成为实现电子产品小型化、轻质化、多功能化的重要手段。玻璃通孔(TGV)互连技术具有高频电学特性优异、成本低、工艺流程简单、机械稳定性强等应用优势,在射频器件、微机电系统(MEMS)封装、光电系统集成等领域具有广泛的应用前景。综述了国内外高密度玻璃通孔制作、金属填充、表面高密度布线的研究进展,对玻璃通孔技术特点及其应用进行了总结。

关 键 词:玻璃转接板  玻璃通孔  金属填充  高密度布线  

分 类 号:TN305.96]

参考文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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