文献类型：期刊文章

作　　者：张昌胜[1] 宋建萍[1] 郑业爽[1] 蒋小辉[1]

ZHANG Changsheng;SONG Jianping;ZHENG Yeshuang;JIANG Xiaohui(Department of Mechanical and Electrical,College of Science and Technology of China Three Gorges University,Hubei 443002,China)

机构地区：[1]三峡大学科技学院机械电气学部,湖北443002

出　　处：《集成电路应用》

年　　份：2021

卷　　号：38

期　　号：2

起止页码：16-17

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：基于一阶R-C电路,根据电路动态性能测量电容C大小,较传统的测量方法其自动化水平及精度都有一定提升。采用上-下位机模式,在下位机中对R-C电路动态性能分析,获得电容测量值并上传至上位机,上位机对数据进行处理及误差分析,并自动生成数据文件保存。该测量仪经实践验证,操作简单、精度高、快速高效且扩展性及应用性较强。

关 键 词：R-C电路 动态性能 电容测量

分 类 号：TP212] TP368.12]