文献类型：期刊文章

作　　者：任青莲[1,2] 陶珑[1] 郭燕飞[1] 陈东良[1]

REN Qing-lian;TAO Long;GUO Yan-fei;CHEN Dong-liang(School of Electronic Information Engineering,Taiyuan University of Science and Technology,Taiyuan 030024,China;Huake College,Taiyuan University of Science and Technology,Taiyuan 030024,China)

机构地区：[1]太原科技大学电子信息工程学院,山西太原030024 [2]太原科技大学华科学院,山西太原030024

出　　处：《机械工程与自动化》

基　　金：2018山西省高等学校教学改革创新项目(J2018263)。

年　　份：2021

期　　号：2

起止页码：128-130

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：以STM32单片机最小系统为核心、DDS函数信号发生器为信号源设计了一种简易的放大电路特性测试仪。该测试仪可以测量并显示被测放大电路的动态性能指标,绘制其幅频特性曲线、测量截止频率,并能及时准确地判断放大电路的各种故障及元器件值的变化。该测试仪可用于高等院校相关课程的实践教学,能够简化电子电路的设计与调试过程,具有一定的实际意义。

关 键 词：电路特性测试仪  软件设计 STM32单片机 功能模块

分 类 号：TN72] TP273]