文献类型：期刊文章

作　　者：石英[1] 陈心浩[1] 何湘竹[2]

SHI Ying;CHEN Xinhao;HE Xiangzhu(Laboratory and Equipment Administration Department,South-central University for Nationalities,Wuhan 430074,China;College of Electronics and Information,South-central University for Nationalities,Wuhan 430074,China)

机构地区：[1]中南民族大学实验教学与实验室管理中心,湖北武汉430074 [2]中南民族大学电子信息工程学院,湖北武汉430074

出　　处：《实验技术与管理》

基　　金：湖北省高等学校省级研究项目(2014188);中南民族大学教研项目(JYX19114);中南民族大学实验室技改项目(JG201603)。

年　　份：2020

卷　　号：37

期　　号：12

起止页码：130-135

语　　种：中文

收录情况：BDHX、BDHX2017、CAS、IC、JST、RCCSE、核心刊

摘　　要：为了解决实验室和实验教学中74系列数字芯片功能和型号测试自动化的问题,该文设计了一套基于"单片机+FPGA"的数字芯片自动测试系统。采用单片机作为控制核心,驱动LCD显示测试信息,扫描按键设置测试参数;采用FPGA作为测试核心,给待测芯片施加激励信号,并将响应信号与预期响应信号进行比较,获得测试结果;设计自定义接口完成单片机与FPGA之间的通信。该系统实现了14、16和20引脚的74系列数字芯片功能和型号测试,具有集成化、多样化、便捷化的特点,极大地提高了实验室和实验教学中芯片的测试效率。

关 键 词：数字芯片自动测试  多功能  多引脚  单片机 FPGA

分 类 号：TN407]