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氮化镓单晶衬底制备技术发展与展望 ( EI收录)
Development and Trends of GaN Single Crystal Substrate Fabrication Technology
文献类型:期刊文章
JIANG Yuanxi;LIU Nanliu;ZHANG Fabi;WANG Qi;ZHANG Guoyi(School of Information and Communication,Guilin University of Electronic Technology,Guilin 541004,China;Dongguan Institute of Opto-electronics,Peking University,Dongguan 523808,China)
机构地区:[1]桂林电子科技大学信息与通信学院,桂林541004 [2]北京大学东莞光电研究院,东莞523808
基 金:国家自然科学基金面上项目(61974005);广东省重点领域研发计划(2020B010169001,2020B090922001);广东省区域联合基金重点项目(2019B1515120091)。
年 份:2020
卷 号:49
期 号:11
起止页码:2038-2045
语 种:中文
收录情况:BDHX、BDHX2017、CAS、EI、IC、JST、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊
摘 要:氮化镓(GaN)是第三代半导体材料中的典型代表。因其良好的物理化学性能与热稳定特性,是制作光电子器件及电力电子器件的理想材料。采用同质外延技术在GaN单晶衬底上制备GaN基器件是实现其高性能的根本途径。本文综述了GaN单晶衬底制备的氢化物气相外延技术、三卤化物气相外延技术、氨热法及助熔剂法(钠流法)的研究进展,并对未来可能的发展方向提出了展望。
关 键 词:氮化镓 单晶衬底 同质外延 氨热法 钠流法
分 类 号:TN304]
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