文献类型：期刊文章

作　　者：付伟伟[1] 黄坤[1]

Fu Weiwei;Huang Kun(Department of Optics and Optical Engineering,School of Physical Sciences,University of Science and Technology of China,Hefei 230026,China)

机构地区：[1]中国科学技术大学物理学院光学与光学工程系,安徽合肥230026

出　　处：《红外与激光工程》

基　　金：国家自然科学基金(61875181,61705085)。

年　　份：2020

卷　　号：49

期　　号：9

起止页码：166-179

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2017、CSCD、CSCD2019_2020、EI、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：纳米技术的飞速发展促进了微纳结构的加工制造、科学研究及工业应用。而微纳结构的光学特性是近年来光学领域的研究热点之一,其带动了纳米光子学、表面等离激元光学、超表面/超材料光学、拓扑光子学、非厄米光学等新兴学科的发展,为实现光的高精度、全方位操控奠定了重要技术基础。文中主要针对全光图像处理中的边缘检测技术,系统地梳理了微纳光学结构和器件在实现光计算(如微分、卷积等)时涉及的基础、原理、技术和应用,并展望了其在超快图像处理、高对比度显微成像、卷积神经网络和智能光学系统等领域的应用研究。

关 键 词：微纳光学  边缘检测 图像处理 全光数学计算  

分 类 号：O438.2]