文献类型：期刊文章

作　　者：王强辉[1] 华文深[1] 黄富瑜[1] 严阳[1,2] 张炎[1] 索文凯[1,3]

WANG Qianghui;HUA Wenshen;HUANG Fuyu;YAN Yang;ZHANG Yan;SUO Wenkai(Department of Electronic and Optical Engineering, Shijiazhuang Campus, Army Engineering University of PLA, Shijiazhuang 050003, China;31681 Unit, People’s Liberation Army of China, Tianshui 741000, China;68129 Unit, People’s Liberation Army of China, Lanzhou 730000, China)

机构地区：[1]中国人民解放军陆军工程大学石家庄校区电子与光学工程系,石家庄050003 [2]中国人民解放军31681部队,天水741000 [3]中国人民解放军68129部队,兰州730000

出　　处：《激光技术》

基　　金：国家自然科学基金资助项目(61801507)。

年　　份：2020

卷　　号：44

期　　号：5

起止页码：623-627

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD_E2019_2020、IC、JST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：为了解决利用高光谱图像进行异常检测时结果不准确、虚警率较高的问题,提出了一种基于光谱角背景纯化的异常检测算法。该算法以局部RX算法为基础,根据光谱角距离分离出内外窗口间背景像元中的异常成分,得到纯化后的背景像元,然后进行异常检测。为验证算法的有效性,选取了两组机载可见光/红外光成像光谱仪真实高光谱数据进行仿真实验,并与经典的全局RX、局部RX算法进行对比。结果表明,与局部RX算法相比,该算法在两组数据下的曲线下面积分别提高了0.0317和0.0053。这些结果为下一步的研究方向提供了参考。

关 键 词：光谱学 高光谱图像 异常检测 光谱角 背景纯化  局部RX算法  

分 类 号：TP751]