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期刊文章详细信息

JEM-2100透射电镜多次烘烤与样品仓维护维修    

Multiple baking problems and sample chamber maintenance of JEM-2100 transmission electron microscope

  

文献类型:期刊文章

作  者:刘彦雄[1] 卞龙春[1] 曹秋娥[1]

LIU Yan-xiong;BIAN Long-chun;CAO Qiu-e(School of Chemical Science and Technology,Yunnan University,Kunming Yunnan 650091,China)

机构地区:[1]云南大学化学科学与工程学院现代分析测试中心,云南昆明650091

出  处:《电子显微学报》

年  份:2020

卷  号:39

期  号:4

起止页码:426-427

语  种:中文

收录情况:BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD_E2019_2020、JST、RCCSE、ZGKJHX、核心刊

摘  要:透射电子显微镜等大型仪器在高校教学科研中有着非常重要的作用,特别随着双一流大学的建设,老旧仪器依然发挥余热,服务于科学研究。但使用效率极高且使用年限已久的仪器,其许多配件易损坏,加之维修费用高,周期长等问题一直困扰实验人员。本文通过油滴法解决样品仓真空泄露,样品杆对内嵌铜管切削致使其损坏等问题,该方法不仅成本低,且节约维修时间,使得仪器能够更好地服务于日常试样测试,提高了仪器使用效率。

关 键 词:样品仓  真空度 油滴法  样品杆损坏  

分 类 号:TH744] TN16[仪器类]

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同被引文献:

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