文献类型：期刊文章

作　　者：谷洪刚[1] 柯贤华[1] 丁可[2] 赵雪楠[1] 李先杰[2] 刘世元[1,3]

GU Honggang;KE Xianhua;DING Ke;ZHAO Xuenan;LI Xianjie;LIU Shiyuan(School of Mechanical Science and Engineering,Huazhong University of Science and Engineering,Wuhan 430074,China;Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co.,Ltd.,Wuhan 430078,China;Wuhan Eoptics Technology Co.,Ltd.,Wuhan 430075,China)

机构地区：[1]华中科技大学机械科学与工程学院,武汉430074 [2]武汉华星光电半导体显示技术有限公司,武汉430078 [3]武汉颐光科技有限公司,武汉430075

出　　处：《微纳电子与智能制造》

基　　金：国家自然科学基金项目(51727809,51805193,51525502);中国博士后基金项目(2016M602288)资助。

年　　份：2020

卷　　号：2

期　　号：2

起止页码：41-62

语　　种：中文

收录情况：普通刊

摘　　要：阐述光谱椭偏测量技术基本原理和椭偏测量数据分析方法,发展宽光谱穆勒矩阵椭偏仪等先进光谱椭偏测量技术和仪器。利用光谱椭偏测量技术精确标定典型OLED(organic light-emitting diode)材料基础光学数据,分析揭示有机材料分子取向及其导致的光学各向异性。构建复杂叠层有机发光器件光学计算模型,模拟分析其关键性能参数,提出光学协同优化设计方法,指导高性能OLED器件设计。结果和讨论展示了光谱椭偏技术在OLED材料与器件表征以及高性能OLED器件设计中的应用。

关 键 词：光谱椭偏  有机发光二极管 纳米薄膜测量  光学常数表征  分子取向 光学各向异性 光学模拟  协同优化设计  

分 类 号：TH74]