文献类型：期刊文章

作　　者：郝曙光[1] 李璐[1] 张伟政[1] 赵胜男[1] 高楠楠[2] 何聪[3] 李军浩[3]

HAO Shuguang;LI Lu;ZHANG Weizheng;ZHAO Shengnan;GAO Nannan;HE Cong;LI Junhao(State Grid Henan Electric Power Co.,Ltd.,Maintenance Branch,Zhengzhou 450004,China;State Grid of China Technology College,Jinan 250002,China;School of Electrical Engineering,Xi’an Jiaotong University,Xi’an 710049,China)

机构地区：[1]国网河南省电力公司检修公司,郑州450004 [2]国网技术学院,济南250002 [3]西安交通大学电气工程学院,西安710049

出　　处：《高压电器》

年　　份：2020

卷　　号：56

期　　号：6

起止页码：88-92

语　　种：中文

收录情况：AJ、BDHX、BDHX2017、CAS、CSCD、CSCD2019_2020、IC、JST、PROQUEST、RCCSE、SCOPUS、ZGKJHX、核心刊

摘　　要：金属尖刺缺陷作为GIS内部常见的绝缘缺陷之一,严重威胁GIS的安全稳定运行。文中基于特高频局部放电检测方法研究了GIS内部导杆和外壳上金属尖刺缺陷的局部放电特性。在导杆上设计了长度为3.5、6、12 mm的尖端缺陷,在外壳上设计了长度为12 mm的尖端缺陷;通过逐步升压法对不同部位、不同尺寸缺陷下的特高频局部放电信号进行了测量;结合局部放电信号PRPD谱图对不同部位、不同尺寸下的局部放电特性进行了分析。试验结果表明,GIS内部的金属尖端缺陷不同电压下的放电呈现不同的特征,放电首先出现在交流电压负半周,然后出现在交流电压正半周。缺陷的尺寸对放电特性影响显著;不同位置的尖刺缺陷局部放电特征明显不同。

关 键 词：GIS 金属尖刺缺  局部放电 特高频

分 类 号：TM855]